SN/T 2949-2011 出口滑石中二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁的测定X射线荧光光谱法

SN/T 2949-2011. 1范围 SN/T 2949规定了X射线荧光光谱法同时测定滑吞中经氧化硅.三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁含量的方法。 SN/T 2949适用于滑石中二氧化挂、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁含量的测定,各元素测定范围见表1。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 6682分析实验室用水规格和试验方法! GB/T 15341滑石 GB/T15342滑石粉 GB/T 15343滑石化学分析方法 GB/T 16597冶金产品分析方法×射线荧光光谱法通则 3方法原理 采用无水四硼酸锂熔样,碘化钾为脱膜剂制成试料片。测量出待测元素特征谱线的X射线荧光强度,根据待测元素的X射线荧光强度与待测元素的含量之间的关系,选用回归方程及数学校正模型,计算出待测元素的含盘。 6.6试料熔片的检查 试料熔片应透明,肉眼观测不应含有不熔物,也不应有结晶及气泡。如出现此情况应重新熔融。 6.7试料熔片的保存 每个试料熔片应单独放于封口塑料袋中,保存于洁净的干燥器中,取放时应避免表面污染及潮解。 6.8标准试料熔片的制备与保存 标准曲线由6个或6个以上滑石标准样品组成。标准试料熔片由国家发布的7个滑石标准样品或由这些标准样品配比而成的标准品按照6.2～6.5方法制备而成,检查及保存的方法同6.6和6.7。 标准试料中各元素氧化物的含量参见附录A中表A.1。 6.9X射线荧光光谱分析 6.9.1测量条件 各元素测量条件参见附录A中表A.2。 6.9.2标准曲线的校正 6.9.2.1如射线荧光光谐仪本配备校正软件,应使用软件进行自动校正。 6.9.2.2X射线荧光光谐仪可使用以下方法进行校正,经验系数法与理论α系数法应只采用其中一种。 a)背景校正