SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管Gp参数测试仪检定规程

SJ 20232-1993.Verification regulation of KDK double gate FET Gp tester. 1范围 1.1主题内容 SJ 20232规程规定了国洋双栅场效应晶体管Gp参数测试仪的检定条件、检定项目、检定方法,检定结果处理及检定周期。 1.2适用范围 SJ 20232规程适用于国洋双栅场效应晶体管Gp参数测试仪的检定。 2引用文件 本章无条文。 3定义 本章无条文。 4一般要求 4.3.2.4 1dB步进衰减器 衰减量:0~11dB; 幅度准确度:0. 05dB; 参考型号:HP8494B(用HP8505A在200MHz和900MHz频率点定标)。 4.3.2.5样管 按部标SJ3254-89要求选取样管。 样管型号:Si22、Si03。 5详细要求 5.1 检定项目与检定方法 5.1.1 外观及工作正常性检查 5.1.1.1受检仪器应附有产品说明书和全套附件。非首次检定时,应附有前次检定证书。 5.1.1.2受检仪器应无影响正常工作和读数的机械损伤,各操作控制键及旋钮能按要求灵活转动和正确定位,电表能机械调零,表针无呆滞现象。通电预热60min后,仪器应能正常工作。 5.1.5.3测试 a.按受测样管的测试条件,设定工作点。 b.去掉同轴电缆连接插头,按图7将两个10dB衰减器分别接入测试盒的输入输出端。把受测样管置于测试盒插座上。当按下右前方的测试开关时就加上了需要的偏压。改变“功率量程”开关,使之能够正确的读出所测的功率增益值,调整测试盒输入输出调节,使达到输出功率最大。此时量程开关的分贝值加上表头指示的分贝读数值就是所测样管的标称值Gp将其填入表A7。