SJ 20233-1993 IMPACT-I型半导体分立器件测试系统检定规程

SJ 20233-1993.Verification regulation of model IMPACT-I semiconductor discrete device test system. 1范围 1.1主题内容 SJ 20233规程规定了IMPACT- I型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目检定方法检定结果处理及检定周期。 1.2适用范围 SJ 20233规程适用于IMPACT-I型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-m型半导体分立器件测试系统的检定,也可参照本规程进行。 2引用文件 本章无条文。 3定义 本章无条文。 4一般要求 4.1受检计量器具的用途和原理. IMPACT-I型主要由直流电压测量电路、电流测量电路、电压源、电流源和控制电路组成,在计算机程序控制下,组成各种.测试电路，以测量分立器件的各种直流参数。另外,选购件1kHz振荡及测量电路,可测量交流参数hi、hu和1+he;外接选购件Butoon公司的72B型电容测量仪,可测量1MHz频率下的结电容Cob ,Cib。 4.2技术要求 4.2.1电压测量 5详细要求 5.1 检定项目及检定方法 5.1.1说明 5.1.1.1凡要在测试台上进行的检定,可随意在一个台上进行，其它台只做功能检查,夹具漏电除外。那时将对每个台及感兴趣的夹具进行。如果某台独有功能,检定项目中将指明。 5.1.1.2检定所用的程序中,210A由系统生产厂提供111系列由检定员自已编写。程序内容见附录C(补充件)(待附),编写方法参考说明书。本规程只给出一个例子(见附录B.111B编写方法)。编好后存到硬盘或软盘中,第二次只需从磁盘调入内存。 5.1.1.3为叙述方便,规定: 运行XXXX程序,相当于进行如下操作: