GB/T 44937.4-2024 集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法.pdf

GB/T 44937.4-2024 集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法.pdf
本文件规定了直接用1阻性探头测量射频(RF)电流和150 Q耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。