SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层测试方法

SJ 20147.1-1992.Measurement methods for electrodeposited Silver and silver alloy coating. 1范围 1.1主题内容 SJ 20147.1规定了用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是一种非接触式的无损测量方法。 1.2适用范围 SJ 20147.1适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量.该方，法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。 2引用文件 本章无条文。 3定义 3.1特征二次辐射X-ray fluorescence 不同元素接受一高强度的入射X射线照射后,产生二次X射线,即X射线荧光。它的波长、能量与材料元素原子序数有关,表现出产生二次辐射的元素光谱特征。 3.2辐射强度 intersity of radiation 单位面积上产生的辐射所含X量子数。由计数器进行测量。 3.3饱和厚度saturation thickness 当特征二次辐射强度不随镀覆层厚度的增加而发生任何变化时的厚度。 3.4归一化强度(I.) normalized intensity : 它是与测量操作和测量时间以及入射X射线强度无关的一个变量,入射X射线能量及几何位置配置能影响归一化计数率。归一化强度(I%)可表示为: 5详细要求 5.1对仪器设备的要求 5.1.1概述 按本标准,适用于测量镀覆层厚度的仪器,其主要部件包括X射线发生器、准直管、试样台架、探测器和数据处理及显示系统。 5.1.2X射线发生器 X射线发生器可以是X光管或同位素源,其中任何一种射线都能作为测量所需二次辐射的激发源。 5:1.3准直管 准直管有一个或几个精密尺寸的孔、孔的大小和形状决定了入射X射线照射在待测镀覆层表面的尺寸。 5.1.4 探测器 探测器接收来自试样的特征二次辐射,并将其转变为电信号,再继续处理得出测定数据。测定单元的调整可选择表层、中间层和(或)基体材料的一个或多个特征能带。 5.1.5数据处 理及显示系统 将探測器所得数据加以处理,从而确定待测试样上镀覆层单位面积上的质量或厚度,并以适当的形式显示出来。 5.2仪器的校准