JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程

JJG 1015-2006. 1范围 JJG 1015适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。 2引用文件 JJF1059—1999《测量不确定度评定与表示》 注:使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。 3概述 通用数字集成电路测试系统测试对象是数字逻辑集成电路器件。可用于圆晶片的测试和封装后的器件测试及产品检验、分析、筛选等测试。典型结构由驱动/比较单元、图形发生器、时钟发生器、精密测量单元、器件电源及控制单元组成。混合电路测试系统及存贮器测试系统中的数字测试单元与数字集成电路测试系统结构基本一致。对于它们的数字测试单元的检定等同于通用数字集成电路测试系统。以下为数字信号测试系统结构示意图。 5通用技术要求 数字集成电路测试系统上应具有制造厂名、仪器型号、出厂序号编号;送检时应带使用说明书，后续检定应备有上次检定证书。 6计量器具控制 计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。 6.1检定条件 6.1.1环境条件 6.1.1.1环境温度:(20±3)℃ 6.1.1.2环境相对湿度:40%~75% 6.1.1.3交流电源电压:(220±11) V;(50±1)Hz 6.1.2检定用设备 6.1.2.1标准电压源 电压范围:±(10mV~50V)最大允许误差:±0.1% 6.1.2.2数字多用表 电压范围:±100V最大允许误差:±0.01% 6.1.2.3 频率计数器 频率范围:100Hz~250MHz最大允许误差:±0.005% 6.1.2.4数字示波器 带宽:1GHz，时间测量:±(1.5~3.5) ns最大允许误差:±5%( 1V/div) 6.1.2.5标准电阻器组 范围:1Q~100MQ 最大允许误差:±(0.05~1)% 6.1.2.6标准样片组