JJG 62—2017 塞尺检定规程

2022年04月06日 JJG 62
JJG 62—2017. 1范围 JJG 62适用于厚度为(0.02~3.00) mm 塞尺的首次检定、后续检定和使用中检查。 2引用文件 JJG 62引用下列文件:GB/T 22523——2008塞尺 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规程;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本规程。 3概述 塞尺是具有固定厚度的实物量具,主要用于间隙检测。塞尺一般由成组的多片组成,也可单片使用。Ⅰ型塞尺的结构见图1,图1 (a)为成组的Ⅰ型塞尺,图1 (b)为单片的Ⅰ型塞尺。Ⅱ型塞尺的结构见图2,图2 (a)为成组的Ⅱ型塞尺,图2 (b)为单片的Ⅱ型塞尺。 5通用技术要求 5.1 外观 5.1.1首次检定的塞尺的工作面应无划痕、折痕、毛刺、锈斑等缺陷﹔后续检定的塞尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。 5.1.2保护板上应标出制造厂名(或厂标)、规格,每片塞尺上均应标出厚度的标称值。 5.2各部分相互作用 塞尺与保护板的联接应可靠,塞尺绕联接件转动应灵活,不得有松动和卡滞现象。 6计量器具控制 计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。 6.1检定条件 检定室内温度为(20土8)℃。 6.2检定项目和主要检定器具 检定项目和主要检定器具见表4。 6.3.1外观 目力观察。 6.3.2各部分相互作用 手动试验。 6.3.3 工作面的表面粗糙度 用R。值为0.4 pm或0.8 um的表面粗糙度比较样块比较测量。表面粗糙度比较样块和被检测量面的加工方法、材料、形状、表面色泽等应尽可能一致。目力观测被检测量面的痕迹深度应不超过表面粗糙度比较样块工作面痕迹的深度。 6.3.4厚度偏差 采用测长仪直接测量,测量示意图见图 3。

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