T/CPIA 0009-2019 电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法
标准名称:T/CPIA 0009-2019 电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法
英文:Test method for cell defects in crystal line silicon photovoltaic
modules by electroluminescence (EL) imaging
标准格式:PDF
标准大小:8805K
标准介绍:1 范围
本标准规定了品体硅光伏组件中电池缺陷的检测,包含术语与定义、样品准备、测试设备、安全准则,环境要求、仪器校准、测试流程、缺陷分类和报告等
本标准适用于室内品体硅光伏组件中电池缺陷的测试,室外测试可参考使用
2 规范性引用文件
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testing)
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