SJ 20245-1993 低频相位计检定规程

SJ 20245-1993.Verification regulation of LF digital phase meter. 1范围 1.1主题内容 SJ 20245规程规定了低频相位计的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 1.2适用范围 本检定规程适用于低频相位计的检定。 2引用文件 本章无条文。 3定义 本章无条文。 4一般要求 4.1受检计量器具的用途和原理 现代低频相位计多采用过零检测原理和脉冲鉴相及误差自动修正技术。 低频相位计一般由双通道过零检测器、脉冲鉴相器、相位量化和显示器等组成。 低频相位计主要用来测量线性网络的相位特性p(w)。用它还可以测量回路的谐振频率fr。 低频相位计也用于回路品质因数Q。 和损耗D的测量.晶体特性、网络时延特性、动力系统、金属探伤、金属厚度测量、测距和定向都要应用低频相位计。 4.2技术要求 4.2.1频率范围 1kHz~1MHz。 4.2.2相位测量范围 4.3.2.5 T型连接头 参考型号:Q9- 50KJK。 5详细要求 5.1 检定项目与检定方法. 5.1.1外观及工作正常性检查 5.1.1.1受检低频相位计(以下简称受检仪器)应附有产品技术说明书及必要附件,非首次检定时,应附有前次检定证书。 5.1.1.2受检仪器应无影响其正常工作及正确读数的机械损伤,转动应平滑。 5.1.1.3按仪器使用说明书要求,加电检查仪器应能正常工作。 5.1.2相位准确度检定 5.1.2. 1按图1连接计量器具。