SJ/T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法

SJ/T 1147-1993.Test method for dielectric loss angle tangent and dielectric canstant of organic film for use in capacitors. 1主题内容与适用范围 1.1主题内容 SJ/T 1147规定了电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数的试验方法。 1.2 适用范围 本标准适用于厚度为2~ 50pμm的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为50Hz、1kHz或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定。 2引用标准 SJ/T 1145电容器用有机薄膜电性能试验方法通则 SJ/T 1146电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法 3方法要点 本方法是在规定的频率下,用电桥或其他仪器测出试样的电容或介质损耗角正切值,并根据试样的电容值,厚度以及测量电极面积算出其介电常数。 4测量仪器 能满足薄膜试样的介质损耗角正切值和电容值测试范围的任何仪器均可使用,但测试介质损耗角正切值误差应不犬于;测试电容值时,误差应不大于士1%测试时,试样与测量导线应有良好的屏蔽。 5试验方法 5.1方法一真空蒸发铝电极法(本方法为仲裁方法) 5.1.1试样 采用与SJ/T 1146中3.1.1.1条规定的相同试样,每组试样不少于3个。 试样要求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定。 5.1.2电极 与SJ/T 1146中3. 1.1.2.2条规定的电极相同。 5.1.3试验步骤 a.将试样放置在上下电极之间，上电极应与试样蒸镀面完全吻合; b.测试频率为50Hz(如果需要,也可用1kHz及1MHz),测试电压不超过250V,记录内容的测量值; c.在蒸镀面周围测量试样未被蒸镀部分的膜厚(至少测量五点)取其平均值为试样的厚度。 5.1.4试验结果的计算