SJ/T 10415-1993 晶体管热敏参数快速筛选试验方法

SJ/T 10415-1993.Rapid screening test methods for thermal ensitive parameter of transistor. 1主题内容与适用范围 SJ/T 10415规定了晶体管热敏参数快速筛选试验方法。 1.1剔除易产生早期失效的晶体管,改善产品批的质量和可靠性。 1.2 测试被试管承受一定脉冲功率前后的热敏参数IcEo (或Ico)Vm和hre等值,以其变化量或变化率预测被试管的热稳定性。 1.3模拟被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、浪涌电流等条件施加应力,以考核被试管承受冲击的能力。 1.4 估计被试管热阻大小和范围。 2试验设备 本试验所需设备应具有以下功能: 2.1能按规定对被试管施加一个电压、电流、脉宽可调的功离脉冲。 2.2在施加功率脉冲的前后,均能测试被试管的ICRO(或Icm)、Vne和hpe等热敏参数;热敏参数的测试条件应能预先设定;施加功率脉冲结束至对热敏参数第二次采样的时间间隔和第二次采样时间应足够短,以尽可能减小由于结温下降影响热敏参数的测试结果,并具有良好的重复性。 2.3应具有足够的热敏参数测试量程和精度等。 2.4根据被试管设定的失效判据,具有失效报警、自动数据处理并显示和打印等功能. 2.5当被试管由于穿通、施加功率脉冲发生二次击穿或热击穿时应具有自保护能力。 3试验步骤 3.1确定施加条件。例如环境温度,功率脉冲的电压、电流及持续时间,热敏参数的测试条件等。