SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

SJ/T 11394-2009.Measure methods of semiconductor light emitting diodes. 1范围 SJ/T 11394规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 SJ/T 11394适用于可见光、白光半导体发光二极管、紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过不标准的引用而成为本标准的条款。凡是注围期的引用文件，其随后的修改单(不包括勘误的内容)破修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新放本。凡是不注日期的引用文件，其最新牌本适用于和特准。 GB/T 3977- 200颜色的表示方法(CIE No.15. 2--1986, MOD GB/T 4365-2003电工术语电磁兼容 ( IES 60050(161):IDT) GB/T 5698 2001颜色术语 GB/T 5702- 2003光源显色性评价方法 GB/T 7921-1997均匀色空间和色差公式CIE No.y15. 2- 1986, NEQ) GB/T 7922--2008照明光源颜色的测量方 GB/T 11499-2001半导体分立器件文字对号 GB/T 15651-19半导体器件分立器件和集成电路 第5部分: 光电子器件(IEC 60747-5;1992, IDT) CIE 127: 1997技术报告LED测量 ANSI/ESD STM 591:20静电放电数居性试验一人体真主 ANSI/ESD STM 5. 21999艳 电放电敏感性试验一机器模式 3术语、定义和符号 GB/T 4365、GB/T 5698、GB/111499、165568立的以及下列术语、定义和符号适用于本标准。 3.1 辐射能radiant energy Qc 以辐射形式发射、传播或接收的能量，单位为J (焦耳)。