SJ 20295-1993 半导体集成电路JT 4344型鉴频/鉴相器详细规范

SJ 20295-1993.Detail specification for type JT4344 phase-freguency detector semiconductor integrated circuits. 1范围 1.1主题内容 SJ 20295规定了硅单片半导体集成电路JT4344型鉴频/鉴相器(以下简称器件)的详细要求。 1.2适用范围 本规范适用于器件的研制、生产和采购。 1.3 分类 本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。 1.3.1 器件编号 器件编号应按GJB 597<微电路总规范》第3. 6.2的规定。 1.3.1.1 器件型号 器件型号如下: 2引用文件 GB 3431.1-82半导体集成电路文字符号电参数文字符号 GB 3439-82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 GB 4590-84半导体集成电路机械和气候的试验方法 GB/T 7092--93 半导体集成电路外形尺寸 GJB 548- - -88微电子器件试验方法和程序 GJB 597-88微电路总规范 GJB 1649--93电子产品防静电放电控制大纲 3要求 3.1详细要求 各项要求应按GJB 597和本规范的规定。 3.2 设计、结构和外形尺寸 设计、结构和外形尺寸应符合GJB 597和本规范的规定。 3.2.1引出端排列 引出端排列应符合图1的规定。 3.2.3电原理图 各制造厂在产品鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构，各制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。 3.2.4封装形式 封装形式应按本规范1.3. 1.3条的规定。 3.3引线材料和涂覆 引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。 3.4电特性 电特性应符合表1的规定。