SJ/T 10815-1996 电子元器件详细规范半导体集成电路CT 1030型TTL 8输入与非门

SJ/T 10815-1996.Detail specification for electronic component Semlconductor integrated circuit- CT1030 TTL8 input NAND gate. SJ/T 10815规定了半导体集成电路CT 1030型TTL8输人与非]鉴定和质量评定的全部内容。 SJ/T 10815是按照GB 5965-86《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的，并符合.GB 4589-84 《半导体集成电路总规范》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。 若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。 7订货资料 若无其他规定，订购器件至少需要下列资料: a. 准确的型号; b.详细规范的国家编 号; c.质量评定类别。 8试验条 件和检验要求 抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB 4589- -84 第3.6.2款表6和表7的规定。. 10.3动态特性的测量 10.3.1基本测试线路 按GB 3439-82图35、36。 10.3.2负载线路 注;①CL包括探头及夹具的电容。 ②二极管为3 DK3 B (bc短接)。 10.4电耐久性试验线路 电耐久性试验线路如图4所示。