SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

SJ/T 10805-2000.Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for voltage comparators. 1主题内容与适用范围 SJ/T 10805规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。 SJ/T 10805适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。 2引用文件 SJ/T 10734- -96半 导体集成电路文字符号电参数文字符 号 3定义 本标准所使用电参数符号和定义符合SJ/T 10734的规定。 4要求 4.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 4.2测试期间，应避免外界干扰对测试准确度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。 4.3测试期间，施于被测器件的电源的内阻在信号频率下应接近为零:电源电压的偏差应在规定值的+1%以内。施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定。 4.4交流小信号测试应在线性工作区进行。 4.5被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 4.6若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 4.7测试期间，被测器件应连接详细规范规定的辅助屯路和补偿网络。 4.8测试期间，被测器件应避免出现自激现象。 4.9若电特性值是由儿步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。