SJ/T 10792-1996 电子元器件详细规范高低频放大环境额定的双极型晶体管

2022年01月13日 SJ/T 10792
SJ/T 10792-1996.Detail specification for electronic component Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification type 3DX 201A. 3DX 201B.3DX 201C. 本标准适用于3DX201 A.3DX201 B、3DX201C型高低频放大环境额定的双极型晶体管,它是按照GB 6217- 86《高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范》制订的,符合GB 4936.1-85《半导体分立器件总规范》I类的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。 A .1加速老化 对于在器件制成后,又进行沾锡(或镀锡)的器件,需做加速老化。其条件是:100C水蒸汽中置放1 h。 A.2试验方法 8.优选采用槽焊法。 b.必要时, 可采用润湿称量法。按国标GB 2423.32- 85《电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可性试验方法》进行。润湿过程,按使用非活性焊剂时,在3 s内达到理论润湿力的35%。 B.3试验步骤 试验应在一间实际上不通风的房间里进行。 a.试验火焰: 通过控制气源来调节灯头火焰,以便当把一段直径为0.71 mm的铜线水平地固定在高于焰心顶6.5 mm处的火焰中,铜线能在8 ~ 9 s内熔化。 b.安装:为了不致因任-支柱而使试样与火焰隔开。试样应安装在金属罩中央的支柱上。除非在有关的详细规范中另有规定,相对于火焰的准确方位应该是判断为最不利的,或能把试样最大表面对着试验火焰的方位。 调节高度,使试样的最低点高于焰心顶6.5mm。 c.试验: 把已按上述方法调好的灯头火焰放置在试样的下方,直至试样着火或达15s,取时间较短者,然后把灯头火焰移开。 B.4要求 如果试样已经出现着火现象,则任何可见火焰应在灯头火焰移开后的10s内消失。试样不符合这个要求,将构成失效。

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