SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

2022年01月09日 SJ/T 11706
SJ/T 11706-2018.Semiconductor integrated cireuits test methodof field programmable gate array. 1范围 SJ/T 11706规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,以下简称FPGA)的电 参数测试方法。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的心也提必不可少的。凡是注日期的引值文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文化,其项新版木(包括所有的修改单)乐用我个文件 GB/T 17574-1928年界体器件集成电路 第2部分: 数字电路 3术语和定 下列术吾和定义适用于文件。 3.1 输入输出单元input otput block 输入辅出四元,简称IQB.是FPGA与外势的接国部分,用于完成不同电物出下对输入输出信号的驱动与四配享。 3.2 可配置连辑界Cconfgrable logie block 可配置逻與模大简称CLB,是FPGA内的基本逻辑单元,用于实现用户通义的基本逻辑功能。 3.3 配置文件configurationfile 根据FPGA开发要求编制规定并约束FPGA功能的数据文作,也回液文件。配置文件一般包括配置数据(用来定义可实在辑示状态的比特位)和配置命个用来控制设备处理配置数据指令的方式)。 3.4 配置过程configuration process 使用一种特定的配置模式将特定的比特流(配置文件)加载到FPGA的过程。特定的配置模式与所配置的FPGA有关。 3.5 外部开关参数external switching parameter 能够从器件引出端直接测量得到的开关参数,例如引脚到引脚的延迟时间。 3.6 内部开关参数internal switching parameter 不能直接从FPGA引出端直接测试的开关参数,例如引出端到内部节点的延迟时间,或者两个内部节点之间的延迟时间。

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