SJ/T 11404-2009 铌酸锂集成光学器件通用规范

2021年12月30日 SJ/T 11404
SJ/T 11404-2009.General specifications for LiNbO3 integrated optical devices. 3.9 电反射electrical reflection Suu 器件的正向输入电信号与反射电信号之比。 4要求 4.1优先顺序 如本规范与详细规范不-致时,应遵循下列优先顺序: a)详细规范; b)通用规范; c)第2章中所引用文件. 4.2器件分类 器件分为以下几类: 相位调制器: 强度调制器; 光开关: Y波导相位调制器; 其它。 4.3光电性能 器件的下列光电性能应满足详细规范规定(各分类器件的相关参数见附录A) : 5质量评定程序. 5.1分类 质量评定程序包括筛选(要求时)、鉴定检验和质量- -致性检验。 5.2 环境条件 除非另有规定,应按GB/T 2421第五章的规定进行。 5.3检验批的构成 5.3.1通则 任何一次提交 鉴定检验或质量-致性检验的全部产品构成一个检验批。每一个检验批应由相同型号的产品组成,或由属于一个或几个详细规范的结构相似的几个检验子批组成。这些产品从开始制造直至封装为止都应是在同一个承制方的相同的生产线上,在同一个规定的周期内采用相同的生产工艺、按照相同的产品设计以及相同的材料标准制成的,每个检验批均应具有可识别的标志。 5.3.2检验子批 一个检验子批应由同一个详细规范中一种型号产品构成。这些产品在同一个生产周期内,在相同生产线上,采用相同的生产工艺、按照相同的产品设计及相同材料标准生产的。 5.3.3结构相似器件 结构相似器件是从开始直到最终封装采用相同的制造工艺,按相同的材料标准,相同的产品设计、在相同的生产线.上制造的仅仅是光电性能不同的器件。 5.4筛选 当详细规范规定了筛选要求时,所有器件可按表1规定进行筛选,并剔除全部有缺陷的器件。若表1中给出的筛选项目的一-部分构成了制造工序的一-部分时,则不必重复这些过程。 筛选应在A、B、C组检验前进行。 当表1中规定的筛选项目与已确认的失效机理无关或有矛盾时,可采用未规定的其它筛选项目的试验。

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